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冷鏡式露點(diǎn)儀的測(cè)量原理 |
文章作者:高氧分析儀
審核:微量氧分析儀 發(fā)布日期 [2013年5月15日]
文章閱讀 [4007]
來(lái)源:m.tltszn.com.cn |
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冷鏡式露點(diǎn)儀的測(cè)量原理 被測(cè)濕氣進(jìn)入露點(diǎn)測(cè)量室時(shí)掠過(guò)冷鏡面,當(dāng)鏡面溫度高于濕氣的露點(diǎn)溫度時(shí),鏡面呈干燥狀態(tài),此時(shí)光電檢露裝置中光源發(fā)出的光照在鏡面上,幾乎完全反射,由光電傳感器感應(yīng)到并輸出光電信號(hào),經(jīng)控制回路比較、放大、驅(qū)動(dòng)熱電泵,對(duì)鏡面致冷。當(dāng)鏡面溫度降至濕氣露點(diǎn)溫度時(shí),鏡面上開(kāi)始結(jié)露(霜),光照在鏡面上出現(xiàn)漫反射,光電傳感器感應(yīng)到的反射信號(hào)隨之減弱,此變化經(jīng)控制回路比較、放大后調(diào)節(jié)熱電泵激勵(lì),使其制冷功率適當(dāng)減小,*后,鏡面溫度保持在樣氣露點(diǎn)溫度上。鏡面溫度由一緊貼在冷鏡面下方的鉑電阻溫度傳感器感應(yīng),并顯示在顯示窗上。 目前**上生產(chǎn)冷鏡式露點(diǎn)儀的公司,例如美國(guó)的GE、Edgetech、瑞士的MBW等公司均是采用這一原理,英國(guó)的MICHELL則是采用雙光路檢測(cè)系統(tǒng),即同時(shí)對(duì)反射光及散射光進(jìn)行檢測(cè),芬蘭Vaisala則是利用聲波作檢測(cè)系統(tǒng)。 在測(cè)量過(guò)程中,隨著溫度的降低,被測(cè)氣體中的水汽接近飽和狀態(tài),由于引力作用,水分子吸附在鏡面上形成一層薄薄的水膜。這是形成露的**階段。當(dāng)鏡面溫度繼續(xù)下降時(shí),水膜的厚度逐漸增加,這是形成露的第二階段。在這一階段內(nèi),自由表面對(duì)水分子的引力與水膜的表面張力之間的力量對(duì)比開(kāi)始發(fā)生變化,后者的影響逐漸起支配作用。此時(shí)冷卻表面上的任何不穩(wěn)定的因素,例如鏡面上的微小傷痕等,都會(huì)使水膜縮聚成液滴。隨著鏡面溫度的進(jìn)一步下降,露滴開(kāi)始出現(xiàn),通過(guò)顯微鏡可以看到孤立生長(zhǎng)而且分布不規(guī)則的露滴,然后露層以很快的速度在表面上擴(kuò)散,此時(shí)可以認(rèn)為液-汽平衡開(kāi)始,即達(dá)到露點(diǎn)。 |
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