介紹幾種露點分析儀的優(yōu)點和缺點 露點分析儀從原理上主要主流的可分為冷鏡式、氧化鋁電容式、薄膜電容式、高分子電容式等等。其中氧化鋁電容式露點,露點分析儀一般用于低濕范圍的測量,冷鏡式、薄膜電容式露點分析儀則不僅能用于低濕的測量,還能用于中高濕,即相對濕度的測量。 上述各種原理的儀器各有其優(yōu)缺點。其中冷鏡式露點儀是最準確、最可靠、最基本的測量方法,被廣泛地用于標準傳遞,但其缺點是價格比較昂貴,并需要有經(jīng)驗的人操作及保養(yǎng)。 1.鏡面式露點儀 不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會結露。采用光電檢測技術,檢測出露層并測量結露時的溫度,直接顯示露點。鏡面制冷的方法有:半導體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。鏡面式露點儀采用的是直接測量方法,在保證檢露準確、鏡面制冷高效率和精密測量結露溫度前提下,該種露點儀可作為標準露點儀使用。目前精度達到±0.1℃,目前生產(chǎn)冷鏡式露點儀的公司,基本都是采用這一原理。 2.薄膜電容式露點儀 采用薄膜電容材料,一般精度可達到±3℃以內(nèi),一般測量-55℃以上的露點。
3.高分子電容式露點儀 采用高分子電容材料,一般精度可達到±3℃以內(nèi),一般測量-60℃以上的露點。
隨著現(xiàn)代科學技術的發(fā)展,人們將光電技術,新材料技術,紅外技術,微波技術,微電子技術,光纖技術,聲學技術甚至納米技術應用于氣體中水分的測量。 南京鈦格金儀器儀表有限公司的技術人員根據(jù)測量原理,對氧化鋁,高分子,陶瓷等不同傳感器進行了比較分析和研究,采用了不同的技術方法和方法!∥覀円呀(jīng)從許多直接和間接測量氣體中微量水分的儀器和設備,解決了在不同領域和環(huán)境中測量微量水分的問題。
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